爲制造材料性能符合預期的高質量、可靠産品，控制和測量原材料來料中的雜質元素和痕量元素至關重要——而只有使用正確的設備方能做到這一點。今天我們來了解3種金屬分析檢測工具，分別是：OES、XRF和LIBS，選對檢測儀器，爲企業生産提質提速。

日立直讀光譜儀—— OES

爲滿足各企業的檢測需求，我們的OES提供有台式的火花直讀（FMS/FME/新一級OE750），移動式、便攜式光譜分析儀（PM2/PMP/TMP）

【台式火花直讀光譜儀】

【移動、便攜式光譜儀】

[移動式OES的優勢]

| 高准确度的元素分析，直至ppm水平

| 对所有合金元素和痕量元素都拥有很好的分析性能

| 能够分析低含量的碳（L牌号分选）

| 能够通过氮元素的分析确定双相钢的牌号

| 最高的元素测量范围，灵活性和用途广泛

日立手持分析儀器——XRF熒光、LIBS激光

近年來，手持XRF熒光光譜儀在廢舊金屬行業、不鏽鋼等行業裏面應用廣泛，成爲來料分揀的好幫手。日立分析儀器在手持式方面提供有2種金屬分析工具，分別是手持XRF熒光光譜儀和LIBS激光誘導分析儀。

【手持LIBS激光誘導分析儀】

【手持XRF熒光光譜儀】

[手持XRF熒光光譜儀的優勢]

| 快速、准确和精密的PMI应用工具

| 一次測量可達35種化學元素

| 分析範圍從ppm水平到100%

| 典型的測量時間爲5-15秒

| 堅固，專爲惡劣環境設計

| 三種技術中對樣品表面條件最不敏感的

OES、XRF、LIBS三種分析設備的對比

首先關于檢測表面痕迹。

某些應用，如航空航天和汽車，需要進行無損檢測（NDT）。對樣品的影響取決于所使用的技術：

XRF：唯一無損的方法

LIBS：表面留下一個小的激發痕迹（劃痕）

OES：樣品表面留有清楚的激發痕迹

通常，原材料的進貨檢驗可以使用任何技術完成，並且沒有無損檢測要求。

其次，針對不同分析目的，選擇合適的分析工具。

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我司專注光譜儀10多年，同時也是日立分析儀器華南地區的技術服務中心。我們擁有專業的售前、售後技術團隊，售前爲您提供專業的選型指導，樣機現場演示，實驗室測樣，旨在爲您配備最適合的分析工具；售後我們的工程師團隊能快速反應，解決您在設備使用過程中遇到的問題，爲您提供專業的設備維護服務。

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